可程式高低温试验箱概述：

　　可程式高低温试验箱适用于电子电工产品、仪器仪表、原材料、电子元件等高低温适应性试验、低温恒温及储存；可程式高低温试验箱特别适用于光纤、晶体、精密电感、PCB、LCD等产品的高低温适应性试验。

　　可程式高低温试验箱详细资料：

　　特点：

　　可程式高低温试验箱采用进口按键式温度控制器,专家PID算法,LCD显示设定和测量温度，温度控制稳定可靠,操作简单,程式编辑容易；

　　可程式高低温箱独特的送风循环系统，避免了气流在箱内流通死角，提高了产品温度均匀度;

　　全封闭进口压缩机+环保冷媒+机械式单级/复迭低温回路系统,制冷效果好,可靠性高;

　　完善的安全保护装置,确保产品的运行更加安全可靠;

　　可程式高低温试验箱多样的温度控制器可供用户选择。

　　执行与满足标准

　　1. GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件

　　2. GB/T11158-1989 高温试验箱技术条件

　　3. GB/T10592-1989 高低温试验箱技术条件

　　4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1试验A规程: 低温试验方法

　　5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2试验B规程: 高温试验方法

　　6. GB/T2423.22-1987试验Nb温度变化试验方法

　　7. GJB150.3-1986高温试验

　　8. GJB150.4-1986低温试验

　　9. IEC68-2-14 试验N

　　用途

　　可程式高低温试验箱适用于电子电工产品、仪器仪表、原材料、电子元件等高低温适应性试验、低温恒温及储存；

　　可程式高低温试验箱TLP225的主要技术参数请来电咨询。